(1)
Кофнов, О. В.; Лебедев, Е. Л.; Михайленко, А. В. Компьютерное моделирование дифракции миллиметровых электромагнитных волн для выявления внутренних дефектов изделий, выполненных по аддитивной технологии. ТС 2018, 1, 76-94.