[1]
Кофнов, О.В., Лебедев, Е.Л. и Михайленко, А.В. 2018. Компьютерное моделирование дифракции миллиметровых электромагнитных волн для выявления внутренних дефектов изделий, выполненных по аддитивной технологии. Труды СПИИРАН. 1, 56 (фев. 2018), 76-94. DOI:https://doi.org/10.15622/sp.56.4.